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材料分析方法智慧樹(shù)知到課后章節(jié)答案2023年下蘭州理工大學(xué)蘭州理工大學(xué)第一章測(cè)試1.在連續(xù)X射線譜中，隨管壓增高，連續(xù)譜曲線對(duì)應(yīng)的最大值和短波限λ。都（）A:向短波方向移動(dòng)B:不變C:變化無(wú)規(guī)律D:向長(zhǎng)波方向移動(dòng)答案:向短波方向移動(dòng)2.連續(xù)X射線譜的短波限λ0只與管電壓有關(guān)（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì)3.Kα射線比Kβ射線的波長(zhǎng)短而強(qiáng)度高（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:錯(cuò)4.同一物質(zhì)的吸收譜與發(fā)射譜之間的關(guān)系是吸收譜的波長(zhǎng)小于發(fā)射譜。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì)5.X射線與物質(zhì)的相互作用從能量轉(zhuǎn)換的觀點(diǎn)看，可歸結(jié)為三個(gè)能量轉(zhuǎn)換過(guò)程：（）。 A:衰減能量吸收能量透過(guò)能量B:散射能量吸收能量透過(guò)能量C:散射能量衰減能量透過(guò)能量D:散射能量吸收能量衰減能量答案:散射能量吸收能量透過(guò)能量第二章測(cè)試1.相鄰兩個(gè)真實(shí)存在的晶面（hkl）反射線之間的波程差是λ，相鄰兩個(gè)干涉面（HKL）之間反射線的波程差是nλ。（）A:錯(cuò)B:對(duì)答案:錯(cuò)2.干涉指數(shù)與晶面指數(shù)的明顯差別是干涉指數(shù)中有公約數(shù)，當(dāng)干涉指數(shù)為質(zhì)數(shù)時(shí)，它就代表一組真實(shí)的晶面。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì)3.不在埃瓦爾德球上的倒易陣點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的晶面（）A:不滿足布拉格方程，該晶面不衍射B:不滿足布拉格方程，但該晶面衍射C:滿足布拉格方程,無(wú)論何種條件，該晶面均不衍射D:滿足布拉格方程，該晶面衍射答案:不滿足布拉格方程，該晶面不衍射4.用已知波長(zhǎng)的X射線照射晶體，由測(cè)量得到的衍射角求得對(duì)應(yīng)的晶面間距，可以獲得晶體的（） A:形貌信息B:結(jié)構(gòu)信息C:成分種類信息D:成分含量信息答案:結(jié)構(gòu)信息第三章測(cè)試1.凡是滿足布拉格方程的入射X射線或電子束在晶體中必然會(huì)產(chǎn)生衍射。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:錯(cuò)2.在粉末法中影響X射線強(qiáng)度的因子有五項(xiàng)，分別為：原子散射因子、角因子、多重性因子、吸收因子、溫度因子。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:錯(cuò)3.面心立方晶胞，參與衍射的晶面應(yīng)符合以下條件（）A:H+K+L為偶數(shù)B:HKL為異性數(shù)C:HKL為同性數(shù)D:H+K+L為奇數(shù)答案:HKL為同性數(shù)4.影響圓柱試樣吸收因數(shù)的因素是。（）A:與吸收系數(shù)、布拉格角、試樣尺寸、溫度都有關(guān)B:與試樣尺寸、吸收系數(shù)有關(guān)，與布拉格角無(wú)關(guān)C:與吸收系數(shù)、布拉格角、試樣尺寸都有關(guān)D:與吸收系數(shù)、布拉格角有關(guān)，與試樣尺寸無(wú)關(guān)答案:與吸收系數(shù)、布拉格角、試樣尺寸都有關(guān) 1.溫度越高，原子熱振動(dòng)的振幅越大，偏離衍射條件越遠(yuǎn)，衍射強(qiáng)度（）A:增加B:減小C:不變D:不確定答案:減小第四章測(cè)試2.非晶態(tài)物質(zhì)XRD圖中的半高寬對(duì)應(yīng)著相鄰分子或原子間的平均距離。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì)3.內(nèi)標(biāo)法是將所需物相的純物質(zhì)另外單獨(dú)標(biāo)定，然后與多相混合物中的待測(cè)物相的相應(yīng)衍射線強(qiáng)度相比較而進(jìn)行的。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:錯(cuò)4.物相是指材料中成分和性質(zhì)一致、結(jié)構(gòu)相同并與其他部分與界面分開(kāi)的部分。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì)5.在X射線衍射儀中，樣品的轉(zhuǎn)動(dòng)θ角從0度到90度，則衍射面間距的變化（）A:不變B:從最小升至最大C:從最大降到最小D:面間距先減小后增大答案:從最大降到最小 第五章測(cè)試1.分辨本領(lǐng)是指成像物體上能分辨出來(lái)的兩個(gè)物點(diǎn)間的最小距離，不管是光學(xué)顯微鏡還是電子顯微鏡，分辨本領(lǐng)均取決于照明光源的波長(zhǎng)（）。A:錯(cuò)B:對(duì)答案:對(duì)2.電子束在電磁透鏡中的運(yùn)動(dòng)軌跡是螺旋向前近軸運(yùn)動(dòng)，這是由于受到洛倫茲力的作用而導(dǎo)致的。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì)3.把透鏡物平面允許的軸向偏差定義為透鏡的（）。A:焦長(zhǎng)B:景深C:球差答案:景深4.電磁透鏡分辨率主要的制約因素是（）A:衍射效應(yīng)B:像差C:衍射效應(yīng)+透鏡像差D:可見(jiàn)光波長(zhǎng)答案:衍射效應(yīng)+透鏡像差5.由于電磁透鏡磁場(chǎng)中近軸區(qū)域?qū)﹄娮邮恼凵淠芰εc遠(yuǎn)軸區(qū)域不同而產(chǎn)生的像差，稱為（）。 A:色差B:像散C:球差答案:球差第六章測(cè)試1.TEM的中間鏡是一個(gè)長(zhǎng)焦距變倍透鏡，可在0~40倍范圍調(diào)節(jié)，當(dāng)放大倍數(shù)大于1時(shí)，用來(lái)進(jìn)一步放大物鏡像。（）A:錯(cuò)B:對(duì)答案:錯(cuò)2.透射電鏡中實(shí)現(xiàn)明暗場(chǎng)成像操作轉(zhuǎn)換的光闌是物鏡光闌。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:錯(cuò)3.透射電鏡中用來(lái)調(diào)節(jié)圖像襯度的光闌是（）。A:選區(qū)光闌B:物鏡光闌C:聚光鏡光闌答案:物鏡光闌4.透射電鏡有兩大功能，分別為（）A:微觀組織形貌觀察晶體結(jié)構(gòu)同位分析B:微觀組織形貌觀察化學(xué)成分同位分析C:表面形貌觀察化學(xué)成分同位分析D:表面形貌觀察晶體結(jié)構(gòu)同位分析答案:微觀組織形貌觀察晶體結(jié)構(gòu)同位分析 1.在透射電鏡中，選區(qū)光闌位于（）A:中間鏡的物平面B:物鏡的像平面C:物鏡的背焦面D:中間鏡的像平面答案:物鏡的像平面第七章測(cè)試2.倒易點(diǎn)陣中的一個(gè)點(diǎn)代表正點(diǎn)陣中的一個(gè)晶面，倒易矢量的方向垂直于正點(diǎn)陣中相應(yīng)的hkl晶面。（）A:錯(cuò)B:對(duì)答案:對(duì)3.電子波的波長(zhǎng)比X-ray短得多，在同樣滿足布拉格方程時(shí)電子衍射的衍射角θ很小，約為10-2rad，而X-ray衍射角θ最大可接近π/2。（）A:錯(cuò)B:對(duì)答案:對(duì)4.在愛(ài)瓦爾德球上，若倒易陣點(diǎn)落在球上，球心與該倒易陣點(diǎn)的連線方向必為某一hkl晶面的衍射方向。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì)5.零層倒易截面（）于相應(yīng)的晶帶軸，且包含該晶帶的（）。A:平行所有共帶面B:平行所有共帶面的倒易矢量C:垂直所有共帶面D:垂直 所有共帶面的倒易矢量答案:垂直所有共帶面的倒易矢量1.透射電鏡電子衍射花樣斑點(diǎn)的強(qiáng)度最主要取決于（）。A:結(jié)構(gòu)因數(shù)的大小B:偏離矢量的大小C:衍射試樣的體積D:多重性因數(shù)答案:多重性因數(shù)第八章測(cè)試2.質(zhì)厚襯度原理是建立在非晶體樣品中原子對(duì)入射電子的衍射和透射電鏡小孔徑角成像基礎(chǔ)上的成像原理。是解釋非晶電子顯微圖像襯度的理論依據(jù)。（）A:錯(cuò)B:對(duì)答案:錯(cuò)3.電子穿過(guò)非晶體薄樣品時(shí)，受到樣品原子核的散射作用，樣品原子序數(shù)越大，散射角越大。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì)4.孿晶在透射電鏡下的圖像襯度特征為：黑白相間、寬度不等的平行條帶。若孿晶界為傾斜晶界，則出現(xiàn)等厚條紋。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì) 1.在透射電鏡中，形成高分辨晶格像利用下面哪種襯度原理（）A:質(zhì)厚襯度B:相位襯度C:形貌襯度D:衍射襯度答案:相位襯度2.欲觀察鋼中的孿晶和位錯(cuò)，應(yīng)選用以下哪種分析方法（）A:透射電鏡B:X射線衍射C:電子探針D:掃描電鏡答案:透射電鏡第九章測(cè)試3.二次電子和背散射電子在顯示表面形貌襯度時(shí)不同之處為背散射電子分辨率低，襯度大失去細(xì)節(jié)。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì)4.掃描電鏡的分辨率指二次電子成像時(shí)的分辨率。（）A:錯(cuò)B:對(duì)答案:對(duì)5.吸收電子信號(hào)和背散射電子信號(hào)在形成原子序數(shù)襯度像時(shí)的區(qū)別在于背散射電子的產(chǎn)額隨著原子序數(shù)的增大而減小，所以樣品表面原子序數(shù)大的區(qū)域形成的圖像比較亮；而吸收電子的的信號(hào)隨著原子序數(shù)的增大而增大，所以原子序數(shù)大的區(qū)域吸收電子的圖像比較暗，反之亦然。（） A:錯(cuò)B:對(duì)答案:錯(cuò)1.在碳纖維增強(qiáng)鎳基復(fù)合材料的吸收電子、背散射電子原子序數(shù)襯度圖像中，碳纖維顯示出的襯度分別為（）。A:暗的襯度亮的襯度B:亮的襯度亮的襯度C:亮的襯度暗的襯度D:暗的襯度暗的襯度答案:亮的襯度暗的襯度2.影響掃描電鏡分辨率的因素是（）A:檢測(cè)信號(hào)類別、檢測(cè)電流、電子束束斑直徑B:檢測(cè)電流、檢測(cè)部位原子序數(shù)、電子束束斑直徑C:檢測(cè)信號(hào)類別、檢測(cè)部位原子序數(shù)、檢測(cè)電流D:檢測(cè)信號(hào)類別、檢測(cè)部位原子序數(shù)、電子束束斑直徑答案:檢測(cè)信號(hào)類別、檢測(cè)部位原子序數(shù)、電子束束斑直徑第十章測(cè)試3.電子探針的原理是用細(xì)聚焦電子束入射樣品表面，激發(fā)出樣品元素的特征X射線，分析特征能量或特征波長(zhǎng)便可知樣品中的含元素的種類。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì)4.掃描電鏡與電子探針結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)對(duì)試樣的以下分析形貌、成分和結(jié)構(gòu)的綜合分析。（） A:對(duì)B:錯(cuò)答案:錯(cuò)1.波譜儀通過(guò)分析特征X射線的（）進(jìn)行定性分析。A:光量子數(shù)目B:特征能量C:特征波長(zhǎng)D:強(qiáng)度答案:特征波長(zhǎng)2.對(duì)固體表面元素定性分析和定量分析時(shí)，應(yīng)選用（）A:TEMB:SEMC:X射線衍射D:電子探針答案:電子探針3.欲分析鋼中存在的鈷元素，以及碳化物中的碳元素，最好分別采用下面哪種分析方法（）？A:能譜儀，波譜儀B:波譜儀，波譜儀C:能譜儀，能譜儀D:波譜儀，能譜儀答案:波譜儀，波譜儀第十一章測(cè)試4.俄歇電子能譜可分析金屬表面的輕元素污染，例如空氣中的氧、二氧化碳、氧化硫等。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì) 1.原子力顯微鏡除了觀測(cè)絕緣體表面形貌，還可以測(cè)量樣品表面的彈性、塑性、硬度、黏著力、摩擦力等性能。（）A:對(duì)B:錯(cuò)答案:對(duì)2.低能電子衍射樣品需用離子轟擊凈化，并以液氮冷卻防止污染。（）A:錯(cuò)B:對(duì)答案:對(duì)3.下列那種表面分析技術(shù)不屬于表面形貌及結(jié)構(gòu)分析技術(shù)。（）A:掃描隧道顯微鏡B:原子力顯微鏡C:X射線光電子能譜D:場(chǎng)離子顯微鏡答案:X射線光電子能譜4.離子探針顯微分析，它的分析深度比較，可測(cè)量質(zhì)量極限、濃度極限，可分析元素范圍，常被用于薄層表面微區(qū)成分分析。（）A:深；低；小B:淺；低；小C:深；高；大D:淺；高；大答案:淺；高；大