《sram型fpga測(cè)試技術(shù)的研究和測(cè)試平臺(tái)開(kāi)發(fā)論文》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在學(xué)術(shù)論文-天天文庫(kù)。

1、獨(dú)創(chuàng)性（或創(chuàng)新性）聲明本人聲明所呈交的論文是我個(gè)人在導(dǎo)師指導(dǎo)下進(jìn)行的研究工作及取得的研究成果。盡我所知，除了文中特別加以標(biāo)注和致謝中所羅列的內(nèi)容以外，論文中不包含其他人已經(jīng)發(fā)表或撰寫過(guò)的研究成果；也不包含為獲得桂林電子科技大學(xué)或其它教育機(jī)構(gòu)的學(xué)位或證書(shū)而使用過(guò)的材料。與我一同工作的同志對(duì)本研究所做的任何貢獻(xiàn)均已在論文中做了明確的說(shuō)明并表示了謝意。申請(qǐng)學(xué)位論文與資料若有不實(shí)之處，本人承擔(dān)一切相關(guān)責(zé)任。本人簽名：日期：關(guān)于論文使用授權(quán)的說(shuō)明本人完全了解桂林電子科技大學(xué)有關(guān)保留和使用學(xué)位論文的規(guī)定，即：

2、研究生在校攻讀學(xué)位期間論文工作的知識(shí)產(chǎn)權(quán)單位屬桂林電子科技大學(xué)。本人保證畢業(yè)離校后，發(fā)表論文或使用論文工作成果時(shí)署名單位仍然為桂林電子科技大學(xué)。學(xué)校有權(quán)保留送交論文的復(fù)印件，允許查閱和借閱論文；學(xué)?？梢怨颊撐牡娜炕虿糠謨?nèi)容，可以允許采用影印、縮印或其它復(fù)制手段保存論文。（保密的論文在解密后遵守此規(guī)定）本學(xué)位論文屬于保密在____年解密后適用本授權(quán)書(shū)。本人簽名：日期：導(dǎo)師簽名：日期：萬(wàn)方數(shù)據(jù)摘要摘要FPGA作為現(xiàn)場(chǎng)集成技術(shù)的目標(biāo)載體，已經(jīng)被廣泛應(yīng)用。隨著深亞微米超大規(guī)模集成電路的發(fā)展，F(xiàn)PGA的

3、規(guī)模也在迅猛發(fā)展，其測(cè)試難度越來(lái)越大，測(cè)試費(fèi)用在芯片制造成本中占的比例也越來(lái)越大。對(duì)FPGA的測(cè)試進(jìn)行廣泛而又深入的研究有著重要意義。本文深入研究了SRAM型FPGA的內(nèi)部構(gòu)造，針對(duì)FPGA的測(cè)試提出了新的觀點(diǎn)和測(cè)試方法。采用改進(jìn)型“陣列流水線法”，即并行測(cè)試法測(cè)試可編程輸入輸出資源(IOB)，從而可以診斷多對(duì)IOB資源故障；采用基于數(shù)據(jù)選擇器的陣列捆綁法測(cè)試可編程邏輯資源(CLB)，提高了故障定位的精度和測(cè)試效率。設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了FPGA的測(cè)試平臺(tái)，該平臺(tái)由USB2.0通信模塊、測(cè)試控制器模塊、被測(cè)對(duì)

4、象和測(cè)試軟件平臺(tái)組成的，通過(guò)該平臺(tái)可完成對(duì)FPGA芯片動(dòng)態(tài)配置、對(duì)FPGA施加測(cè)試向量并采集測(cè)試響應(yīng)，通過(guò)分析測(cè)試響應(yīng)以完成FPGA的測(cè)試。該平臺(tái)采用USB2.0通信接口有效提高了FPGA測(cè)試效率，具有自動(dòng)化和智能化特點(diǎn)，為FPGA測(cè)試?yán)碚摰难芯刻峁┝肆己玫膶?shí)踐驗(yàn)證環(huán)境。利用該測(cè)試平臺(tái)對(duì)FPGA芯片進(jìn)行了測(cè)試驗(yàn)證和故障診斷，測(cè)試結(jié)果表明本文提出的FPGA測(cè)試方法可有效完成故障診斷，提高了故障定位的精度和測(cè)試效率。并通過(guò)分析測(cè)試結(jié)果對(duì)測(cè)試?yán)碚撚辛烁钊氲恼J(rèn)識(shí)。關(guān)鍵詞：FPGA測(cè)試；編程配置；故障模型

5、；測(cè)試平臺(tái)；USB2.0-I-萬(wàn)方數(shù)據(jù)AbstractAbstractAsthetargetingvectoroffieldintegrationtechnology,FPGAhasbeenusedwidely.Withthedevelopmentofdeepsub-micronVLSI,thescaleofFPGAisalsodevelopingrapidly,thedifficultyforFPGAtestingisincreasing,Theproportionoftestcostinthe

6、chipmanufacturingcostisalsoincreasing.Ithasimportantsgnificancetodoextensiveandin-depthstudyforFPGAtesting.ThepaperresearchedtheinternalstructureofSRAM-BasedFPGAs,putforwardnewideasandtestmethodsforFPGAtesting.ThepaperadoptedImprovedArrayAssemblyLineM

7、ethod,whichisParallelTestMethodtotestprogrammableInputandOutputBlock(IOB),soastoDiagnosismultiple-pairsIOBresourcefaults;andadoptedArray-BundledMethodBaseOnDataSelectortotestConfigurableLogicBlocks(CLB),improvedtheaccuracyoffaultlocationandthetestinge

8、fficiency.ThepaperdesignedandrealizedtheFPGAtestplatform,whichiscomposedbyUSB2.0communicationmodule,thetestcontrollermodule,themeasuredobjectandtestsoftwareplatform.WecanimplementthedynamicconfigurationforFPGAchips、imposetestvectorandcollectte